テレビ朝日、7月の障害の原因は「中性子線の衝突」　半導体の進化でソフトエラー発生率は上昇

半導体プロセスのデザインルールが微細化するほどソフトエラーの発生率は高くなる（出典：TTC標準 JT-K131 通信装置のソフトエラー対策設計法）