効率的にSiC結晶中の単一スピン情報を読み出し成功

（a）作製したデバイスの概略図。対物レンズは励起レーザーの照射とシリコン空孔からの蛍光捕集に用いた。（b）蛍光検出（左）と光電流検出（右）によるデバイス内部のイメージ像［クリックで拡大］ 出所：京都大学