CNT繊維の強度低下の原因を解明、電子線の照射により高強度化

TEM内滑り試験で得たCNT滑り抵抗力。（a）不純物がほとんど存在しない環境での滑り試験。分子同士が固着するスティック状態と、分子同士が滑っていくスリップ状態によるのこぎり状のピークが複数観察された。（b）不純物が存在する場合の滑り試験。連続的なスティックスリップ挙動は見られず一度の滑りで分子同士が分離した。（c）電子照射数を変えた場合の、同じ接触長のCNT分子同士とNCNT分子同士のサンプルを引っ張った際の最大滑り抵抗力。［クリックで拡大］ 出所：筑波大学