先端ロジック/メモリチップのパターニングには計測技術のブレークスルーが必要

図1 パターニングの課題には、コンタクトホール、ライン、スペースの微細寸法(CD)のばらつきおよびエッジプレースメントエラーなどがある[クリックで拡大]

図1 パターニングの課題には、コンタクトホール、ライン、スペースの微細寸法(CD)のばらつきおよびエッジプレースメントエラーなどがある[クリックで拡大]