正常データだけで学習する異常検知AIに新手法、半導体ウェーハで検知精度90%超も

撮影箇所により外観が異なる半導体ウェーハの拡大画像のイメージ(クリックで拡大) 出典:東芝

撮影箇所により外観が異なる半導体ウェーハの拡大画像のイメージ(クリックで拡大) 出典:東芝