三菱電機とAISTがダイヤモンド基板GaN-HEMTの開発に成功、無線機器の高効率化に

左:同研究におけるGaN-HEMTの作製法 右:同研究におけるブレークスルーポイント 出典:三菱電機

左:同研究におけるGaN-HEMTの作製法 右:同研究におけるブレークスルーポイント 出典:三菱電機