SiC-IGBT向け高精度シミュレーション技術を開発 左図は300〜523KにおけるTRPL測定の実測および計算結果。右図はTRPL測定結果の解析で得られたキャリア寿命の温度依存性[クリックで拡大] 出所:電力中央研究所 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan