広い視野で高精細に観察できるX線撮影技術、理研ら X線ビームによる「ゆらぎ」と「ゆがみ」を補正する前とした後の画像品質例[クリックで拡大] 出所:理研 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan