DRAMセルの熱とエントロピー、「電子1個単位」で同時測定 (a)デバイスの等価回路、(b)デバイスの電子顕微鏡写真、(c)検出器電流の測定例、(d)電子の移動ごとに生じる熱量、(e)熱量の算出方法を示した模式図、(f)得られた電子数確率分布[クリックで拡大] 出所:NTT 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan