EUV露光に残された課題――ペリクルの現在地と展望とは 図4:ASMLにおけるEUVペリクルのRoadmap[クリックで拡大] 出所:Anthony Yen (ASML), “EUV Lithography Overview and Outlook”, 次世代リソグラフィ研究会(2024年7月4日)のスライド 記事に戻る 湯之上隆(微細加工研究所),EE Times Japan