SiCとSiやサファイアを常温接合、「ほぼ不可能」を独自技術で実現 HAADF-EDSマッピング像:SiC-Si接合界面の元素分布[クリックで拡大] 出所:SHW Tech 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan