シャーペンの芯が高品位電子ビームの発生源に 今回の実験に用いた試料の走査電子顕微鏡像(左)と電界放射パターン(中央)および、安定した電界放射電流値(右)[クリックで拡大] 出所:筑波大学 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan