表面実装パワーデバイスの高周波特性を手軽に計測 開発したプローブ(実線)と従来のテストフィクスチャー(破線)によるSパラメーターの測定結果[クリックで拡大] 出所:産総研 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan