シリコン膜表面をわずかに酸化させ、熱放射を倍増 表面フォノンポラリトンによる熱放射を測定するためのデバイス構造と電子顕微鏡写真[クリックで拡大] 出所:東京大学 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan