チップ抵抗器の小型化が過度な温度上昇を招く（後編）

周囲温度を基準とする負荷軽減曲線（左）と端子部温度を基準とする負荷軽減曲線（右）［クリックで拡大］ 出所：JEITA　Jisso技術ロードマップ専門委員会（2022年7月7日に開催された完成報告会のスライド）