ルチル型酸化物半導体でデバイス動作を確認 r-TiO2(001)基板上に格子整合させたr-Ge0.49Sn0.51O2薄膜を用いて作製したSBDの電流密度−電圧特性[クリックで拡大] 出所:立命館大学他 記事に戻る 馬本隆綱,EE Times Japan