理研、シリコン量子ビットの初期化技術を開発

左は複数回の測定でフィードバック信号を生成する初期化処理の概略図。右は初期化処理後、量子ビットに回転操作を加えた際のスピン振動[クリックで拡大] 出所:理研

左は複数回の測定でフィードバック信号を生成する初期化処理の概略図。右は初期化処理後、量子ビットに回転操作を加えた際のスピン振動[クリックで拡大] 出所:理研