混載MRAMの高速読み出し/書き換え技術を開発 ルネサスが試作した、MRAMメモリセルアレイを搭載したテストチップの概要[クリックで拡大] 出所:ルネサス エレクトロニクス 記事に戻る 村尾麻悠子,EE Times Japan