機能性フィルムの表面ひずみを高い精度で定量計測

左は従来品と今回開発したフレキシブル電子デバイスで発生する表面ひずみのイメージ、右はフィルムの厚さと表面ひずみの関係を示す図 （クリックで拡大） 出典：東京工業大学