64個のCISを同時測定、アドバンテストの最新テスト装置 左=PDF Solutionsの「Exensio」をベースにした「Advantest Cloud Solutions」の概念図/右=半導体製造の各工程のデータをクラウドにアップして統合、解析し、歩留まりや装置稼働効率の向上を狙う。図中の黄色い矢印はテスター同士がつながるイメージで、青い矢印はテスター以外(測定データやテストデータなど)がつながるイメージ 出典:アドバンテスト(クリックで拡大) 記事に戻る 村尾麻悠子,EE Times Japan