64個のCISを同時測定、アドバンテストの最新テスト装置

左＝PDF Solutionsの「Exensio」をベースにした「Advantest Cloud Solutions」の概念図／右＝半導体製造の各工程のデータをクラウドにアップして統合、解析し、歩留まりや装置稼働効率の向上を狙う。図中の黄色い矢印はテスター同士がつながるイメージで、青い矢印はテスター以外（測定データやテストデータなど）がつながるイメージ 出典：アドバンテスト（クリックで拡大）