Lam Researchが打ち立てた金字塔、“1年間メンテナンスフリー”のドライエッチング装置 図14:最先端露光装置EUV(NA0.55) 出典:Anthony Yen, ASML, “EUV Lithography and Its Application to Logic and Memory Devices”, VLSI 2020, SC1.5(クリックで拡大) 記事に戻る 湯之上隆(微細加工研究所),EE Times Japan