新手法の酸化膜形成でSiC-MOSFETの性能が10倍に Si-MOSFET/SiC-MOSFETにおける酸化膜の生成方法。SiC-MOSFETでは、酸化膜生成後に猛毒のNOガスで界面を処理することで、欠陥のレベルが「少しマシ」になるという 出典:京都大学/東京工業大学(クリックで拡大) 記事に戻る 村尾麻悠子,EE Times Japan