1nmが見えてきたスケーリング 「VLSI 2020」リポート 図15:ASMLによるEUV露光装置の合計出荷台数 出典:Anthony Yen, ASML, “EUV Lithography and Its Application to Logic and Memory Devices”, VLSI 2020, SC1.5(クリックで拡大) 記事に戻る 湯之上隆(微細加工研究所),EE Times Japan