アトミックレイヤーエッチングとドライエッチング技術の未来展望 図4:Digital Etching & ALE論文数の日米比較(クリックで拡大) 出典:グーグルスカラーによる検索等を基に筆者作成 記事に戻る 湯之上隆(微細加工研究所) 有門経敏(Tech Trend Analysis),EE Times Japan