チャージングダメージの障壁を乗り越えた日米の情熱

図4：日立の津国＆野尻論文（1987年SSDM） （クリックで拡大） 出典：K. Tsunokuni, K. Nojiri et al., 19th Conference on Solid State Devices and Materials, p.195 (1987).