東京大学、原子一個の電気陰性度の測定に成功

左は原子間力顕微鏡（AFM）の模式図、中央はAFMで観察した酸素吸着後のSi表面の凹凸像、右は結合エネルギーと針−試料間距離との関係を示したグラフ （クリックで拡大） 出典：東京大学