ルネサス、フィン構造のMONOSフラッシュを開発

フィン構造にしても、良好な電荷保持特性を維持したという。特に車載用途で重視されるデータ保持特性は、25万回の書き換え動作後に150℃で10年以上と、従来と同等の信頼性を備えるとする（クリックで拡大） 出典：ルネサス