ルネサス 90nm BCDプロセス混載可能なフラッシュ

読み出し時にメモリセル選択ゲートへの正電圧印加を不要にするアレイアーキテクチャ技術の概要 （クリックで拡大） 出典：ルネサス エレクトロニクス