ナノインプリント開発の進展状況をキヤノンが講演(2)〜解像度と位置合わせ、生産性 重ね合わせ(オーバーレイ)誤差の推移。1年で半分〜3分の1と過去3年で急速に誤差を下げてきた(クリックで拡大) 記事に戻る 福田昭,EE Times Japan