ルネサス、28nm世代混載フラッシュ技術を改良――順調に進む次世代車載マイコン開発 高速読み出し動作と高信頼性を両立させる技術の概要 (クリックで拡大) 出典:ルネサス エレクトロニクス 記事に戻る 竹本達哉,EE Times Japan