「経験で設計すると失敗する」、ルネサスが提示する16nm FinFET SRAMの課題 左=車載向けSoCの「R-Car」シリーズではSRAMが重要になる。右=16nm FinFETを用いたSRAMセルの構造(クリックで拡大) 出典:ルネサス エレクトロニクス 記事に戻る 村尾麻悠子,EE Times Japan