埋もれた強磁性層からスピン分解電子状態を検出、デバイスの特性向上に期待

今回の研究で行ったスピン分解光電子分光の実験配置の模式図 （クリックで拡大） 出典：NIMS、東北大学の金属材料研究所および電気通信研究所