半導体(11)―― MOSFETの新しいアバランシェ検査法 図1:MOSFETの断面図と等価回路[クリックで拡大] 出所:ルネサス エレクトロニクス「パワーMOS FET アプリケーションノート R07AN0006JJ0100」 記事に戻る 加藤博二(Sifoen),EDN Japan