高速シリアルの多レーン化がもたらすシグナルインテグリティの新たな課題 図6 組み込み型のテスト装置に向けたツールセットを使えば、この図のようなアイパターンを生成できる。出典:Asset InterTech (クリックで画像を拡大) 記事に戻る Janine Love,Test & Measurement World