ESD/イミュニティ試験の基礎をつかむ 図5 リレー放電方式CDM試験のシステム構成 DUTとグラウンド電極の間に絶縁材料を配置することで、仮想的なコンデンサを形成する。 記事に戻る Dwight Byrd/Thomas Kugelstadt(Texas Instruments),EDN