高耐圧パワーデバイスの測定技術 図23 nチャンネルMOSFETのオフ領域における測定結果 三洋半導体の「2SK3745」を使用した。 記事に戻る 柿谷 寿生/永井 好/得納 幸史(アジレント・テクノロジー・インターナショナル),EDN