電池モジュールのセル電圧を測る

図8 自動校正機能を盛り込んだ回路 (a)は校正データを取得するためのチャンネル、(b)は計測用のチャンネル。(a)の回路で取得した校正データを用いて、(b)の回路の校正を行う。この手法により、トランジスタ(ダイオード)のベース‐エミッタ電圧のマッチングが不要になり、温度の変化による影響も校正できる。

図8 自動校正機能を盛り込んだ回路 (a)は校正データを取得するためのチャンネル、(b)は計測用のチャンネル。(a)の回路で取得した校正データを用いて、(b)の回路の校正を行う。この手法により、トランジスタ(ダイオード)のベース‐エミッタ電圧のマッチングが不要になり、温度の変化による影響も校正できる。