「不揮発性DRAM」へのアプローチ(後編)

試作した3次元キャパシターアレイの断面観察像(上:走査型電子顕微鏡)と上面観察像(下:透過型電子顕微鏡)。ZAZ構造の厚みは7.5nm、円筒状キャパシターのアスペクト比は30(水平方向を1とすると、垂直方向の長さが30)である。出典:NaMLabやドレスデン工科大学などの共同研究グループが2016年12月に国際学会IEDMで発表した資料から(クリックで拡大)

試作した3次元キャパシターアレイの断面観察像(上:走査型電子顕微鏡)と上面観察像(下:透過型電子顕微鏡)。ZAZ構造の厚みは7.5nm、円筒状キャパシターのアスペクト比は30(水平方向を1とすると、垂直方向の長さが30)である。出典:NaMLabやドレスデン工科大学などの共同研究グループが2016年12月に国際学会IEDMで発表した資料から(クリックで拡大)