強誘電体トランジスタで多値メモリを実現する（後編）

3通りのしきい電圧を記憶した強誘電体トランジスタの長期信頼性。左のグラフはプログラム電圧としきい電圧、データ保持期間。室温で10時間を経過しても、劣化は見られない。右のグラフは書き換えサイクル寿命。105回まで確認した。出典：NaMLabおよびドレスデン工科大学（クリックで拡大）