通常のシリコンで高性能「量子ビット」を実装

図2：ラビ振動測定方法の模式図と測定結果 （クリックで拡大） 出典：理研A：最初に、スピンを下向きスピン（量子ビットの0状態）に初期化する。次に、スピン操作のためのマイクロ波電圧をかけてマイクロ波を照射し、スピン状態の単発読み出しを行う。単発読み出しを1000回繰り返すことで、上向きのスピンを測定した確率を計算。最後に、量子ドット内の電子を1個から0個にする（空乏化）。B：スピン状態の時間発展の測定結果。横軸はマイクロ波の照射時間で、縦軸は上向きスピンの観測確率を示す。理想的な量子ビットの振る舞いに近い、正弦波状の振動パターン（ラビ振動）が観測されている。