ARMから見た7nm CMOS時代のCPU設計(17)〜次々世代の配線技術と回路技術 金属配線のエレクトロマイグレーション問題(右)と炭素(カーボン)配線の研究例(左)。出典:ARM(クリックで拡大) 記事に戻る 福田昭,EE Times Japan