ダイヤモンドと窒化ホウ素の接合界面の原子構造を特定、新機能材料開発に道

走査透過型電子顕微鏡で観察したc−BN/ダイヤモンド境界面の明視野像とSAED(Selected-Area Electron Diffaction)像。(a)は[11-2]晶帯軸による明視野像、(b)は[11-2]晶帯軸によるSAED像、(c)は[111]晶帯軸による明視野像、(d)は晶帯軸によるSAED像。スケールバーはいずれも15nm (クリックで拡大) 出典:AIMR、NIMS

走査透過型電子顕微鏡で観察したc−BN/ダイヤモンド境界面の明視野像とSAED(Selected-Area Electron Diffaction)像。(a)は[11-2]晶帯軸による明視野像、(b)は[11-2]晶帯軸によるSAED像、(c)は[111]晶帯軸による明視野像、(d)は晶帯軸によるSAED像。スケールバーはいずれも15nm (クリックで拡大) 出典:AIMR、NIMS