不良解析レポートを理解するための基礎知識 ―― 一次物理解析＆電気的特性評価 図4：ATE(テスタ）の故障検出方法例（全加算器の場合） 記事に戻る 菅井賢（STマイクロエレクトロニクス），EDN Japan
